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元件參數(shù)測(cè)試儀

浩儀元件參數(shù)測(cè)試儀伏達(dá)光電測(cè)試儀貝奇測(cè)試儀五強(qiáng)晶體管/半導(dǎo)體測(cè)試儀益和元件參數(shù)測(cè)試儀羅德與施瓦茨分析儀是德測(cè)試儀致茂測(cè)試儀致新測(cè)試儀同惠測(cè)試儀阻抗測(cè)試儀泰克測(cè)試儀恩智測(cè)試儀
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TH2638 TH2638ATH2638B TH2638C高速精密電容測(cè)量儀 TH2638 TH2638 TH2638B TH2638C高速精密電容測(cè)量儀基本精度為±0.07%，損耗精度高達(dá)0.0005，最高速度高達(dá)2.3ms;超寬的量程配置，能夠精確測(cè)量從低值到高值的各類電容;超寬的輸出阻抗范圍和信號(hào)電平補(bǔ)償功能，適合于用穩(wěn)定的測(cè)試電平高速高精度測(cè)試陶瓷電容器;其三參數(shù)(Cs-RsLs)測(cè)試功能解決了新能源汽車用DC-Link薄膜電容器串聯(lián)等效電感ESL的測(cè)試難題。

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2024-11-23

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TH2848-02L TH2848-02TH2848-05 TH2848-10精密阻抗分析儀 TH2848-05 TH2848-10精密阻抗分析儀（其它型號(hào)TH2848-02L TH2848-02）是同惠電子采用了當(dāng)前自動(dòng)平衡電橋原理及新一代測(cè)量控制技術(shù)研發(fā)成功的新一代精密阻抗分析儀，創(chuàng)新性的采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù)，解決了以往LCR測(cè)試速度慢、顯示單一、操作繁瑣等缺陷。

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TH2838 TH2838A TH2838H精密阻抗分析儀 TH2838 TH2838A TH2838H精密阻抗分析儀其0.05%的基本精度、最快達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

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2024-11-23

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TH2839 TH2839A精密阻抗分析儀 TH2839 TH2839A精密阻抗分析儀器其0.05%的基本精度、最快達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、20Hz-10MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

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TH2851-130XS精密阻抗元件參數(shù)分析儀 TH2851-130XS精密阻抗元件參數(shù)分析儀是常州同惠電子采用當(dāng)前自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的新高度。改變了傳統(tǒng)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測(cè)試更智能、更簡便。

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TH2851-015~TH2851 - 130TH2851系列精密阻抗分析儀元件參數(shù)儀 TH2851系列精密阻抗分析儀元件參數(shù)儀是常州同惠電子采用當(dāng)前*自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測(cè)試更智能、更簡便。

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TMT4 PCIE容限測(cè)試儀 TMT4 PCIE容限測(cè)試儀是同類產(chǎn)品中專業(yè)級(jí) PCIe 測(cè)試工具，可快速輕松地評(píng)估 PCIe Gen 3 (8 GT/s) 和 Gen 4 (16 Gt/s) 設(shè)備的鏈路運(yùn)行狀況。它支持 CEM、M.2、U.2 和 U.3 等最常見的 PCIe 形狀因數(shù)，能夠與當(dāng)今可用的大多數(shù) PCIe 設(shè)備進(jìn)行連接。

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2024-11-23

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H045/H085/H150PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀 PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀：H系列TDR阻抗測(cè)試儀是基于時(shí)域反射原理設(shè)計(jì)而成的高帶寬特性阻抗測(cè)試分析專用儀器。儀器采用真差分寬帶取樣技術(shù)，能夠自動(dòng)、快速、批量、準(zhǔn)確測(cè)試線路板及電線電纜的特性阻抗，具備波形顯示與分析功能，適用于PCB硬板、FPC軟板及電線電纜的阻抗測(cè)試。

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2024-11-22

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